Beste relatie ,

Mass Interconnect Interface.

De enige betrouwbare manier om gedurende de gehele levenscyclus van uw testsysteem contactproblemen te vermijden.

---

Hoe belangrijk is een goede tester interface?

Een interface tussen uw meetelektronica en de UUT (Unit Under Test) is vaak een onderbelicht en onderschat onderwerp tijdens het bouwen en ontwikkelen van een testsysteem. In ieder testsysteem moet een verbinding tot stand worden gebracht tussen de meetinstrumenten en datgene dat u ermee wilt testen. Om contact te maken met een printplaat die getest dient te worden na assemblage …

Meer lezen.

---

DigitalTest's FailSim optimaliseerd de kwaliteit van de ICT test. 

The basic reason for ICT is to assure product quality by checking for failures introduced during production. Test Coverage statistics of ICT typically only evaluates that there is a test executed for each component. But what if the ICT test program itself performs “fake tests” due to mistakes in debugging or other test conditions? During test program debug many failing component tests can occur with increasing risk for not suitable modification of test parameters. If a component value is measured with wrong test parameters it easily leads to “unreal measurement”, i.e. tests that eventually never will fail. Environmental influences such as noise introduced from other surrounding devices (e.g.. via cable connections) can also cause “fake tests” and the test quality no longer can be guaranteed. How can we avoid this? How can we verify and guarantee the quality of the test programs and detect fake tests? With the new Digitaltest tool FailSim this problem will be resolved for analog ICT. The FailSim tool helps to avoid mistakes, because it double checks the test conditions for component measurements. FailSim verifies that an existing ICT test (e.g. for R & C) detects failures on an UUT by simulating component failures (wrong value) using HW simulation. By placing additional resistor /capacitors in parallel/series to the DUT component values outside the test-limits are simulated and it is checked that the actual test-statement really detects this failure condition. FailSim can increase significantly the test quality (and therefore your quality assurance) because it helps the user to double check the test program debugging and to avoid fake test conditions.

Meer informatie over Digitaltest.

---

Nieuwe Stripconnector van ECT.

ECT heeft een nieuwe strip connector ontwikkeld op basis van de zeer betrouwbare CP-059 serie Pogo testprobes. De connectoren kunnen vrij worden samengesteld in één of twee rijen met een vrije keuze in het aantal kolommen. Er zijn diverse standaard lengtes van probes beschikbaar voor zowel on-board als "trough hole" montage. Vraag Romex naar de beschikbare standaard uitvoeringen. …

Meer lezen.

---

Dino-Lite Inspectiesystemen

Dino-Lite biedt een volledige serie, tegen elektrostatische ontladingen (ESD) beveiligde, digitale microscopen en accessoires, specifiek ontworpen voor de behoeften van de elektronica industrie. De robuuste aluminium behuizing van de ESD-veilige microscoopmodellen produceert geen significante statische elektriciteit. De speciale ESD-veilige standaarden zijn afgewerkt met een speciaal samengestelde ESD-veilige coating, ontwikkeld voor omgevingen met gevoelige elektronica. Dit …

Meer lezen.

---
---